Mở đầu: Biến số ẩn thường bị bỏ qua
Trong dây chuyền SLM/LPBF, kỹ sư thường quy lỗi tạo hình cho bột, thông số hoặc kết cấu support, nhưng lại bỏ qua một biến số ẩn: hệ quang học laser. Độ trôi của galvo, thấu kính hội tụ bị bẩn và suy giảm công suất laser sẽ trực tiếp làm thay đổi mật độ năng lượng thực tế tác động lên lớp bột, khiến cùng một bộ thông số công nghệ tạo ra các chi tiết có độ đặc khác nhau trên các thiết bị khác nhau, hoặc trên cùng một thiết bị ở các thời điểm khác nhau. Có lô giá đỡ hàng không, độ đặc của sản phẩm đầu tiên giảm từ 99,2% xuống 97,1%; sau một tuần kiểm tra, nguyên nhân được xác định là thấu kính hội tụ bị nhiễm bẩn nhẹ làm chùm tia bị phân kỳ. Bài viết này trình bày từ góc độ kỹ thuật các phương pháp thực tế để bảo trì và hiệu chuẩn hệ quang học.
1. Các khâu then chốt trong đường quang laser
Đường quang SLM dùng laser sợi quang điển hình gồm đầu ra sợi quang, thấu kính chuẩn trực, galvo quét X/Y, thấu kính hội tụ F-theta và kính bảo vệ. Laser sợi quang danh định 500W sau khi chuẩn trực và hội tụ sẽ tạo ra điểm laser khoảng 80 đến 120 micromet trên mặt phẳng lớp bột; khi đường kính điểm laser thay đổi 10%, mật độ năng lượng trên lớp bột có thể thay đổi trên 20%. Galvo quét ở tần số 2000 đến 5000 Hz; sai số góc lệch sẽ được khuếch đại tuyến tính thành sai lệch vị trí, là nguyên nhân hàng đầu gây biến dạng biên dạng.
2. Ảnh hưởng của suy hao và ô nhiễm đường quang
Kính bảo vệ và thấu kính hội tụ dần bị bám bẩn do bắn tóe trong thời gian dài, làm giảm độ truyền qua và khiến công suất hiệu dụng bị suy giảm; bụi bẩn còn gây tán xạ, dẫn đến cháy quá mức ở vùng biên. Khuyến nghị kiểm tra độ truyền qua sau mỗi 500 đến 1000 giờ in hoặc mỗi khi chuyển sang chi tiết quan trọng; nếu độ truyền qua thấp hơn 90% so với giá trị ban đầu thì cần thay thế. Với điều kiện gia công titan, nhôm có hiện tượng bắn tóe nghiêm trọng, nên rút ngắn chu kỳ kiểm tra xuống 250 giờ/lần.
3. Chu kỳ hiệu chuẩn galvo và tiêu điểm
Hiệu chuẩn galvo được thực hiện bằng cách quét tấm chuẩn dạng lưới tiêu chuẩn và so sánh với đám mây điểm đo thực tế, từ đó hiệu chỉnh biến dạng phi tuyến; mục tiêu là sai số định vị toàn vùng không vượt quá ±50 micromet. Vị trí hội tụ, tức tiêu điểm Z, có thể thay đổi theo độ trôi nhiệt của thấu kính, nên cần dùng thiết bị kiểm tra tiêu điểm hoặc phương pháp đốt mòn tấm mỏng hằng tuần để xác nhận tiêu điểm nằm trong phạm vi ±0,1 mm so với mặt lớp bột. Công suất laser cần được đo thực tế hằng tháng bằng nhiệt lượng kế; nếu sai lệch vượt quá ±3% thì phải hiệu chuẩn lại đường cong phát laser.
4. Danh sách bảo trì hằng ngày và chiến lược dừng máy
Cần thiết lập kiểm tra phân cấp: mỗi ca quan sát trực quan kính bảo vệ và áp suất màn khí; hằng tuần vệ sinh cửa sổ quang học, kiểm tra điểm sương của khí trơ không vượt quá -40°C; hằng tháng hiệu chuẩn công suất và galvo. Khi phát hiện biên dạng bị mờ, góc bị bo tròn, độ đặc dao động trong cùng một lớp, cần ưu tiên kiểm tra hệ quang học thay vì điều chỉnh thông số một cách mù quáng. Sau bảo trì, bắt buộc xác nhận sản phẩm đầu tiên bằng mẫu chuẩn, chẳng hạn mẫu bậc thang hoặc mẫu kiểm tra góc treo, rồi mới khôi phục sản xuất.
Kết luận
Hệ quang học laser là biến số nền tảng quyết định tính ổn định của SLM. Chỉ khi đưa độ truyền qua của kính bảo vệ, sai số định vị galvo, công suất laser và vị trí tiêu điểm vào quy trình hiệu chuẩn định kỳ, đồng thời dùng mẫu chuẩn để xác nhận sản phẩm đầu tiên sau bảo trì, doanh nghiệp mới có thể biến trạng thái thiết bị từ yếu tố nhiễu khó kiểm soát thành hạng mục được định lượng và kiểm soát, qua đó hỗ trợ ổn định cho sản xuất lô nhỏ và giao hàng hàng loạt.
Gửi mô hình, bản vẽ, hình ảnh hoặc ghi chú bằng văn bản. Kỹ sư sẽ xem xét vật liệu, quy trình, hoàn thiện và giao hàng dựa trên sử dụng thực tế.
